自动测试系统（ATS, Automatic Test System）

一、概述

1、定义

自动测试系统是指那些采用计算机控制，能实现自动化测试的系统，也就是对那些能自动完成激励、测量、数据处理并显示或输出测试结果的一类系统的统称。这类系统通常是在标准的测控系统或仪器总线的基础上组建而成的。

是指在人极少参与或不参与的情况下,自动进行量测,处理数据，并以适当方式显示或输出测试结果的系统。

2、组成

自动测试设备（ATE），测试程序集（TPS），TPS软件开发工具

ATE：用来完成测试任务的全部硬件和相应的操作系统软件；

TPS：测试程序软件，测试接口适配器，被测对象测试所需的各种文件；

TPS软件开发环境：ATE和UUT（被测对象）仿真器，ATE和UUT描述语言，编程工具。

二、应用范围

1、高速、高效率的功能、性能测试。大批量生产并且测试项目多且复杂的电子产品，如大规模的集成电路、大批量生产的印制电路板或电路组件等。

2、快速检测、诊断/维护，提高装备的机动性。现代飞机，导弹，武器系统等，需要快速检测与诊断，遇有故障迅速定位与排除。

3、高档复杂设备的综合检测及过程监视。处于环境试验的被测对象，测试项目多，而且要求在给定的短时间内完成。

三、ATE类型及方法

1、半导体及器件：各个存储单元和芯片引脚，大规模集成电路，微处理器等。

2、电路板：PCB的一些重要参数，如连接、短路和开路等，测量并检验一些板上所装器件的功能和性能。

测量方法：通过提供的每个器件的型号连接等信息在设备库中建立“印象”并存储。测试过程中，ATE每次隔离一个器件，给指定引脚加合适信号，测量点测得输出，与允许数值范围做比较，再通过分析和算法判断，在PCB发生故障时再进一步确定待隔离部件是否故障。每部分都好的，则电路板是好的。

3、存储响应法：将与UUT同类型的“好”电路板的响应模式事先存储在ATE的存储器中，在检测中在于实际值比较。若符合，则被检测的UUT工作正常，若有差异，则存在故障。缺点：存储的数据量极其巨大，实现检测要求庞大的内存空间。

4、特征分析法：也是经过比较来判定，将电路板的数据压缩成唯一的标准并存储。检测时，被测PCB与标准在同样的周期，同样的点通过同样的数据，则二者在任何时刻均具有相同的特征，被测PCB的相应被测功能是正常的。缺点：需要从被测电路板获得数据流以便获得特征。

5、替换对比方法：将一个好的单元从产品系统中抽出而插入相应的同型的UUT。测试信号加到系统上并测量、记录相应的响应信号，若测试通过，则UUT为好。经济。缺点：有可能漏掉被测单元中的某些疑难故障。

6、参考对比方法：将被测单元与一个同型号的已知为好的参考单元在同时运行中进行比较，同时施加同样的信号，比较两者输出端或其他节点的响应，如不同，进一步选择合适的测量/比较节点，采用探针进行测量、比较和查找故障源。

四、ATS软件研制过程

ATS软件结构