图5中参考TA是一台标准高准确度(至少比

被测ETA高两个数量级)电磁式TA,以高准确度无感电阻作为电流/电压转换器,可代表一次电流。被测ETA一般同时有数字量和模拟小电压信号输出,根据IEC标准[2],这些量都必须经过校验。这些信号经DAQ卡采集到处理计算机中处理和计算后即得所需测试结果。为满足多种ETA校验系统的数据采集要求,DAQ卡必须包含多个A/D口、DIO口以及计数器口,且这些端口间必须要有同步触发信号进行同步采样

。

图2　电流互感器的相位误差

Fig12　Phaseerrorofcurrent

transformers

图3　二次输出相量滞后于一次电流向量时的相位误差

Fig13　Phaseerrorwhensecondaryoutputlags

behindprimarycurrentvector

数字量输出的Is一般会滞后Ip,即φ<0(见图

3),因校正的tdr工作在与φ相反的方向,故φe<φ。

图4的实际校验测试系统相量参考图系在图3基础上增加参考系统的相量(虚线所示)后所得。该系统中先用采样技术将标准参考系统数字化,再与被测TA的输出结果比较

。

图5　校验系统框图

Fig15　Schematicdiagramofcalibrationsystem

图4　实际测试系统相量参考图

Fig14　Vectordiagramofactualcalibrationsystem

显然,参考系统的相位差φr包含模拟部分引起

的相位移φer和采样过程中的时延tdrr。实际测试所得相位差是被测TA和参考系统输出相量间的角度差,即图4中最下面两相量间的夹角φm。因参考系统的tdrr和φer较准确,故它们对整个

)时,φr测试系统的作用可校正。略去φ0r(设为0°πftdrr,则被测TA的相位误差为=φer-2

φe=φm+φr+φtdr。

112　比值误差

ETA的比值误差[2]ε与传统TA类似。

(1)

图6　校验系统结构图

Fig16　Structurediagramofcalibrationsystem

对于模拟输出,ε=(KraUs-Ip)/Ip,

对于数字输出,ε=(KrdIs-Ip)/Ip,

(2)(3)

结合自制的混合式光学电流互感器[3](HO2TA),建立了一套互感器校验系统(见图6)。参考TA的输出电流经电阻采样后输入DAQ卡的A/D口,被测HOTA的数字量输出直接送计数器进行数字解调,而模拟电压输出也进入DAQ卡的A/D口进行采样,所得采样信号最终输入计算机处理。

数值处理过程中引入了虚拟仪器技术,利用LabVIEW编程进行数字信号处理和计算,它灵活易用,很便于算法的实现和修改。3　测试结果

其中,Kra、Krd分别为模拟、数字输出的额定比例系数,Us为二次转换输出的有效值,Is为二次数字输出的有效值,Ip为一次电流有效值。2　校验系统的设计和构造

为克服交流电源不稳带来的误差,ETA的校验

(系统框图见图5)一般采用比较法原理。被测ETA和标准参考TA同串一回路,通过调节输入电流的大小进行测试。

针对工频量而言的ε和φe的算法有多种,本文采用DFT算法。将信号f(t)按傅立叶级数展开,可求得基波分量的大小为

N-1()(a1=ficosi),∑

N

i=0

N

b1=

N

N-1

i=0

∑f(i)sin(Ni),

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