一种TFT-LCD Vertical Block Mura的研究与改善

在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质.文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block Mura进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,特别是对其产生的原因创新性地提出了两种方向上的理论观点.通过加强设备科学管理监控,减

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第2 2卷

第 4期

V0 2, . L 2 NO 4 A u ., 0 7 g 2 0

20 0 7年 8月

Chn s o r a fLiud C y tl n s ly ieeJ u n lo q i r sasa d Dipa s

文章编号: 0 72 8 ( 0 7 0— 4 30 1 0— 7 0 2 0 ) 40 3— 7

种 T T L D Vet a B o k Mu a的研究与改善 F— C ri l lc r c 吴洪江,王威,龙春平 (京京东方光电科技有限公司,京 1 0 6 Ema: j@ 13 cr; h n j n@ b e cr. n北北 0 1, - i mhwu . o wu o gi g o .o o ) 7 l 6 n a n

摘要: TF - C Th i a s trIq i rsa Ds l )及其他显示器件产品在 T L D( i Fl Trn i o- iu C ytl i a以 n m s d py中, r是一种比较常见的不良现象,可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工 Mua它艺的实际情况,用 MM, D, P,EM, I采 C EM S F B等检测设备,一种 Vet a Bok Mua行对 r cl lc r进 i 了大量的实验测试、据分析和理论研究工作,别是对其产生的原因创新性地提出了两种数特方向上的理论观点。通过加强设备科学管理监控,小耦合电容效应等一系列改善措施,减产品质量得到了很大程度的提升, ri l lc r从改善前的 2 . Vet a Bo kMua c 61降到了 13,而 .从

使 Vet a BokM ua得以改善,大程度地提高了产品的品质,为今后相关问题的进一 ri l l r c c很并 步研究和解决奠定了一定的理论基础。

词:T T L D;Mua F—C r;抖动;合电容;画面品质耦 文献标识码: A

中图分类号:T 3 9;T 2 . N8 . 3 N3 1 5

1引

种不同的角度仔细观察,随着各式各样的制作伴瑕疵,晶显示器就会有各式各样的 Mu a液 r。 关于 Mu a的产生原因,体上可以分为电 r大学性和光学性两种。其中,学性 Mua是指由光 r 液晶分子排布、晶分子纯度、晶盒厚

或彩色滤液液

Mua本来是一个日本词汇, r因为日本在液

晶显示领域,别是薄膜晶体管液晶显示器特 TFT- LCD( i l Tr n it r Li u d Cr s a Th n Fi m a s s o— q i y t l

D s ly方面起步比较早,术水平比较先进, i a) p技所以业内至今一直沿用日本的定义习惯,这个词用

光片颜料纯度、比例及树脂材料和厚度等等光学因素导致的显示画面灰度不均匀造成各种痕迹的现象;电学性 Mu a指在显示区域中,部位而 r是局置亚像素的电压与同期正常位置上亚像素的电压 存在明显差异导致的灰度不均匀。为了更好地理 解电学性 M ua产生的原因,要了解 TF— C r需 TL D

表示一种液晶显示器以及其他显示器件显示画面的不良现象,即显示区域灰度的不均匀造成各种痕迹的现象 (图 1所示 )如。

的电路结构。TF - C的设计是依靠排列成矩 TL D阵的亚像素点的亮度变化来实现画面显示的。一个 TF— C包含许多个像素,个像素由红 TL D每 (、 (、 ( 3亚像素构成,以显示 2 6 R)绿 G)蓝 B)个可 5种灰度变化。要显示一幅设定的画面,就要控制

每个亚像素上的灰度。当某一行上的栅电极加上 图 1 Mua现象示意图 r Fi. S h ma i o u a p e o n g1 c e t f M r h n me a c

开启电压 V T T器件打开时,、极导通,。, F漏源给

定的信号从数据线上加到亚像素电极上。在公共电极电压不变的情况下,亚像素电极 I O上一定 T

对于 Mua最简单的判断方法就是在暗室中 r

的电压,定了对应亚像素区域上一定的灰度。决 如果亚像素问灰度不一致,会导致 Mu a的产就 r

切换到黑色画面以及其他低灰阶画面,后从各然 收稿日期:2 0— 1 0;订日期:2 0— 20 0 70— 8修 0 70—6

基金项目:北京市科委科技计划资助项目( . 3 6 0 0 0 9 ) NoD0 0 0 6 0 0 1

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